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TOP MINI便攜式X射線衍射儀

便攜性

無需樣品制備工藝，可直接對礦物進行測量，同時也具有體積小、重量輕等特點，可以隨時隨地進行現場分析，便于現場快速決策。

自研分析軟件

配套自主知識產權XRD數據分析軟件包，可以完成物相鑒定及定量分析工作，可直接導入JADE。

快速在線分析

較高的信噪比，提高采樣效率，數據采集時間15~20 分鐘。(半導體樣品小于 5 分鐘)

良好的光路系統設計，物相定量分析達到臺式機的水平，檢出限大于 3wt.%，相對誤差優于 10%

光源的穿透性高

Mo靶光源，能量更高，無需換靶即可完成絕大部分晶體測試，且可提高樣品的裝填厚度。

1、技術參數  技術參數

X光管靶材 Mo靶 額定功率 50 w (50kV, 1.0mA) 探測器 HPC二維探測器 探測器像素 1280*256 2θ 2.5~27.5° 角分辨率 0.25°(FWHM) 樣品量 約15mg 樣品顆粒 <120μm 樣品采集時間 600-1200s 外形尺寸 58cm×42cm×23cm（L*W*H） 凈重 20.0kg 工作環境挑戰 15~35℃ 散熱方式 自動控溫風冷裝置

3、技術優勢

（1）靶材選用Mo靶（17.4keV），傳統的Cu靶(8.04keV)、Co靶(6.9keV)能量較 低，只適用于反射光路，對樣品架厚度及樣品裝填有較高要求，且當樣品中含 有Fe時，Cu靶會產生熒光效應，使結果失真。而TOPMINI采用透射光路，并配 備了0.3mm、0.5mm、0.8mm、2mm的不同厚度樣品架，且適用于所有常規粉末 樣品。

（2）準直管中加入了聚光鏡技術，將信號光強提升了5~6倍，正常工作的20W 即約相當于100W，并且提高了信噪比，使輸出譜圖更加準確。

（3）數據采集時間僅需10~20分鐘（半導體材料僅需5分鐘），具體采集時間可 根據需求自由調整。

（4）物相定量分析結果達到臺式機的水平，檢出限大于 3 wt.%，相對誤差 優于10%。 （5）本產品數據采集范圍2.5~27.5°，可換算為Cu靶的5.5~62.2°，優于現在主流 的5~55°。本產品可根據客戶需求選擇加裝XRF功能或額外加載第二個XRD探測 器，若加載第二個XRD探測器，數據采集范圍可與大型XRD相當，能完成結構 精修要求。

（6）采用HPC二維探測器，探頭與控制器分離設計，兩者總重只有380克，且 兩者價格基本一致。一般情況下，探測器發生損壞時，很少是兩者同時損壞，因此HPC探測器損壞維修時所需費用要遠遠低于CCD探測器。

（7）強大的數據分析軟件包，配套了ICDD和COD兩套數據庫，可根據客戶習 慣自行選用，同時專門設計了常用礦物數據庫，以便一鍵得出錄井現場樣品層 段基本物相情況，可同時適用于實驗室與錄井現場的工作條件。同時，本產品 數據皆為較為通用的格式，客戶可根據自己的要求選用習慣的分析軟件。

（8）整機手提箱大小，無任何運動部件，無需定期標定，結構牢固可靠，可適 應條件溫度內的任何工作環境

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